Found: 16  ชื่อเรื่อง เรียงลำดับโดย: แสดง:   ต่อหน้า List(0)
1
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องAutomatic testing and evaluation of digital integrated circuits / James Thomas Healy.
ชื่อผู้แต่งHealy, James thomas.
พิมพลักษณ์Reston : Prentice-Hall, c1981.
เลขเรียกTK7874 H395
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
2
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องAutomatic testing and evaluation of digital integrated circuits / James T. Healy.
ชื่อผู้แต่งHealy, James Thomas, 1940-.
พิมพลักษณ์Reston, Va. : Reston Pub. Co., c1981.
เลขเรียกTK7874 .H395
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยอุบลราชธานี
3
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องComputer logic testing and verification / J. Paul Roth.
ชื่อผู้แต่งRoth, J. paul.
พิมพลักษณ์Taipei] : s.n., c1980.
ห้องสมุดจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
4
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องDigital circuit testing : a guide to DFT and other techniques / Francis C. Wang.
ชื่อผู้แต่งWang, Francis C.
พิมพลักษณ์San Diego : Academic Press, c1991.
เลขเรียกTK7874 .W363 1991
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
6
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องDigital hardware testing : transistor-level fault modeling and testing / Rochit Rajsuman.
ชื่อผู้แต่งRajsuman, Rochit.
พิมพลักษณ์Boston : Artech House, c1992.
เลขเรียกTK7888.4 R3
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
7
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องDigital hardware testing : transistor-level fault modeling and testing / Rochit Rajsuman.
ชื่อผู้แต่งRajsuman, Rochit.
พิมพลักษณ์Boston : Artech House, c1992.
เลขเรียก621.395 R161D
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเชียงใหม่
8
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องDigital integrated circuit testing from a quality perspective / Eugene R. Hnatek.
ชื่อผู้แต่งHnatek, Eugene r.
พิมพลักษณ์New York : Van Nostrand Reinhold, 1993.
เลขเรียกTK 7874 .H62
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
มหาวิทยาลัยบูรพา
9
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องDigital integrated circuits
พิมพลักษณ์Santa Clara, CA : National Semiconductor Corporation, c1974
เลขเรียกTK7874 DIG 1974
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
10
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องDigital systems testing and testable design / edited by Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D...
พิมพลักษณ์Mumbai : Jaico Publ. House, 2008.
เลขเรียกTK7874 D574 2008
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยนเรศวร
11
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องEssentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits [electronic reso...
ชื่อผู้แต่งBushnell, Michael l.
พิมพลักษณ์Boston : Kluwer Academic, c2000.
เลขเรียกTK7874.75
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
12
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องHigh-Level test synthesis of digital VLSI circuits / Mike Tien-Chien Lee.
ชื่อผู้แต่งLee, Mike Tien-Chien.
พิมพลักษณ์Boston : Artech House, c1997.
เลขเรียกTK7874.75 .L44 1997
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
13
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องProceedings European Design & Test Conference ED & TC 97, March 17-20, 1997, Paris, Francs / sponso...
ชื่อผู้แต่งEuropean Design & Test Conference ED & TC 97 (1997 : Paris, France)
พิมพลักษณ์Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society Press, c1997.
เลขเรียกTK7888.4 .E968 1997
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
14
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องRandom testing of digital circuits : theory and applications / Rene David.
ชื่อผู้แต่งDavid, Rene.
พิมพลักษณ์New York : Marcel Dekker, c1998.
เลขเรียกTK7874 D38
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ
15
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องTesting of digital systems / N.K. Jha and S. Gupta.
ชื่อผู้แต่งJha, Niraj k.
พิมพลักษณ์Cambridge : Cambridge University Press, 2003.
เลขเรียกTK7874.65 J45t,621.381548 J59T
ห้องสมุดจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
มหาวิทยาลัยราชภัฏวไลยอลงกรณ์ ในพระบรมราชูปถัมภ์

© 2013-2019 UCTAL. All Rights Reserved.
สนับสนุนโดย สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา กระทรวงการอุดมศึกษา วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม ThaiLIS | Power by สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา