หน้าหลัก
สถิติ
รายงานสถิติ
รายการขอยืมที่กำลังดำเนินการ
รายงาน
เข้าสู่ระบบ
ลงทะเบียน
ภาษาไทย
English
ค้นหา
ทั้งหมด
ชื่อเรื่อง
ชื่อผู้แต่ง
หัวเรื่อง
แท็ก
ISBN/ISSN
Call number LC
Call number DC
Call number NLM
Search within results
New search
คำค้น
Subject
DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS -- TESTING
ผู้แต่ง
Loading...
ผู้แต่ง
Loading...
ปีที่พิมพ์
2008 (1)
2003 (1)
2000 (1)
1998 (1)
1997 (3)
..more
2543 (1)
ประเภทสื่อ
Book (16)
ภูมิภาค
ภาคตะวันออกเฉียงเหนือ (4)
ภาคเหนือ (3)
ภาคกลาง(กรุงเทพและปริมณฑล) (13)
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยราชภัฏวไลยอลงกรณ์ ในพระบรมราชูปถัมภ์ (1)
มหาวิทยาลัยอุบลราชธานี (1)
มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ (1)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี (3)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี (1)
..more
ภาษา
tha (1)
eng (15)
ผลการค้นหา
Found:
16
ชื่อเรื่อง เรียงลำดับโดย:
Relevance
Title A-Z
Pub date (newest)
Pub date (oldest)
Author A-Z
Call Number
แสดง
:
5
10
15
20
25
30
ต่อหน้า
List(0)
Select Page
|
Deselect Page
|
ส่งออก
|
เคลียร์
1
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Automatic testing and evaluation of digital integrated circuits / James Thomas Healy.
ชื่อผู้แต่ง
Healy, James thomas.
พิมพลักษณ์
Reston : Prentice-Hall, c1981.
เลขเรียก
TK7874 H395
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
2
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Automatic testing and evaluation of digital integrated circuits / James T. Healy.
ชื่อผู้แต่ง
Healy, James Thomas, 1940-.
พิมพลักษณ์
Reston, Va. : Reston Pub. Co., c1981.
เลขเรียก
TK7874 .H395
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยอุบลราชธานี
3
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Computer logic testing and verification / J. Paul Roth.
ชื่อผู้แต่ง
Roth, J. paul.
พิมพลักษณ์
Taipei] : s.n., c1980.
ห้องสมุด
จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
4
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Digital circuit testing : a guide to DFT and other techniques / Francis C. Wang.
ชื่อผู้แต่ง
Wang, Francis C.
พิมพลักษณ์
San Diego : Academic Press, c1991.
เลขเรียก
TK7874 .W363 1991
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
5
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Digital circuit testing and testability / Parag K. Lala.
ชื่อผู้แต่ง
Lala, Parag k.
พิมพลักษณ์
San Diego, Calif. : Academic Pr., c1997.
เลขเรียก
TK7874.75 L193,621.395 La193D
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยขอนแก่น
มหาวิทยาลัยเชียงใหม่
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลพระนคร
..more
×
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยขอนแก่น
มหาวิทยาลัยเชียงใหม่
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลพระนคร
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
มหาวิทยาลัยมหาสารคาม
6
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Digital hardware testing : transistor-level fault modeling and testing / Rochit Rajsuman.
ชื่อผู้แต่ง
Rajsuman, Rochit.
พิมพลักษณ์
Boston : Artech House, c1992.
เลขเรียก
TK7888.4 R3
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
7
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Digital hardware testing : transistor-level fault modeling and testing / Rochit Rajsuman.
ชื่อผู้แต่ง
Rajsuman, Rochit.
พิมพลักษณ์
Boston : Artech House, c1992.
เลขเรียก
621.395 R161D
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเชียงใหม่
8
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Digital integrated circuit testing from a quality perspective / Eugene R. Hnatek.
ชื่อผู้แต่ง
Hnatek, Eugene r.
พิมพลักษณ์
New York : Van Nostrand Reinhold, 1993.
เลขเรียก
TK 7874 .H62
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
มหาวิทยาลัยบูรพา
9
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Digital integrated circuits
พิมพลักษณ์
Santa Clara, CA : National Semiconductor Corporation, c1974
เลขเรียก
TK7874 DIG 1974
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
10
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Digital systems testing and testable design / edited by Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D...
พิมพลักษณ์
Mumbai : Jaico Publ. House, 2008.
เลขเรียก
TK7874 D574 2008
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยนเรศวร
11
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits [electronic reso...
ชื่อผู้แต่ง
Bushnell, Michael l.
พิมพลักษณ์
Boston : Kluwer Academic, c2000.
เลขเรียก
TK7874.75
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
12
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
High-Level test synthesis of digital VLSI circuits / Mike Tien-Chien Lee.
ชื่อผู้แต่ง
Lee, Mike Tien-Chien.
พิมพลักษณ์
Boston : Artech House, c1997.
เลขเรียก
TK7874.75 .L44 1997
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
13
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Proceedings European Design & Test Conference ED & TC 97, March 17-20, 1997, Paris, Francs / sponso...
ชื่อผู้แต่ง
European Design & Test Conference ED & TC 97 (1997 : Paris, France)
พิมพลักษณ์
Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society Press, c1997.
เลขเรียก
TK7888.4 .E968 1997
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
14
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Random testing of digital circuits : theory and applications / Rene David.
ชื่อผู้แต่ง
David, Rene.
พิมพลักษณ์
New York : Marcel Dekker, c1998.
เลขเรียก
TK7874 D38
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ
15
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Testing of digital systems / N.K. Jha and S. Gupta.
ชื่อผู้แต่ง
Jha, Niraj k.
พิมพลักษณ์
Cambridge : Cambridge University Press, 2003.
เลขเรียก
TK7874.65 J45t,621.381548 J59T
ห้องสมุด
จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
มหาวิทยาลัยราชภัฏวไลยอลงกรณ์ ในพระบรมราชูปถัมภ์
1
2
Loading...
ส่งข้อเสนอแนะ/ปัญหา