| Type |  Book |
| ชื่อเรื่อง | Random testing of digital circuits : theory and applications / Rene David |
| ผู้แต่ง | David, Rene |
| ISBN | 0824701828 |
| พิมพลักษณ์ | New York : Marcel Dekker, c1998 |
| รูปเล่ม | xix, 475 p. : ill |
| หัวเรื่อง | Digital integrated circuits --Testing [] |