หน้าหลัก
สถิติ
รายงานสถิติ
รายการขอยืมที่กำลังดำเนินการ
รายงาน
เข้าสู่ระบบ
ลงทะเบียน
ภาษาไทย
English
ค้นหา
ทั้งหมด
ชื่อเรื่อง
ชื่อผู้แต่ง
หัวเรื่อง
แท็ก
ISBN/ISSN
Call number LC
Call number DC
Call number NLM
Search within results
New search
คำค้น
Subject
Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
Region
ภาคตะวันออกเฉียงเหนือ
ปีที่พิมพ์
2008 (1)
1997 (1)
ประเภทสื่อ
Book (2)
ภูมิภาค
ภาคตะวันออกเฉียงเหนือ (2)
ภาคเหนือ (1)
ภาคกลาง(กรุงเทพและปริมณฑล) (2)
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี (1)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลพระนคร (1)
มหาวิทยาลัยมหาสารคาม (1)
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์ (1)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี (2)
..more
ภาษา
eng (2)
ผลการค้นหา
Found:
2
ชื่อเรื่อง เรียงลำดับโดย:
Relevance
Title A-Z
Pub date (newest)
Pub date (oldest)
Author A-Z
Call Number
แสดง
:
5
10
15
20
25
30
ต่อหน้า
List(0)
Select Page
|
Deselect Page
|
ส่งออก
|
เคลียร์
1
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Digital circuit testing and testability / Parag K. Lala.
ชื่อผู้แต่ง
Lala, Parag k.
พิมพลักษณ์
San Diego, Calif. : Academic Pr., c1997.
เลขเรียก
TK7874.75 L193,621.395 La193D
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยขอนแก่น
มหาวิทยาลัยเชียงใหม่
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลพระนคร
..more
×
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยขอนแก่น
มหาวิทยาลัยเชียงใหม่
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลพระนคร
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
มหาวิทยาลัยมหาสารคาม
2
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Nanometer technology designs : high-quality delay tests / Mohammad Tehranipoor, Nisar Ahmed.
ชื่อผู้แต่ง
Tehranipoor, Mohammad.
พิมพลักษณ์
New York : Springer, c2007
เลขเรียก
T174.7 T4n
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยขอนแก่น
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
1
Loading...
ส่งข้อเสนอแนะ/ปัญหา