สหบรรณานุกรมห้องสมุดสถาบันอุดมศึกษาไทย

Found: 6 ชื่อเรื่อง เรียงลำดับโดย: แสดง: ต่อหน้า

List(0)

Select Page | Deselect Page |

ส่งออก | เคลียร์

1

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	ESD : failure mechanisms and models / Steven H. Voldman.
ชื่อผู้แต่ง	Voldman, Steven h.
พิมพลักษณ์	Chichester, West Sussex, U.K. : John Wiley & Sons, 2009.
เลขเรียก	TK7871.852 V65 2009,621.381 Vo914E
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยบูรพา มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี

2

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	Principles of semiconductor network testing / Amir Afshar.
ชื่อผู้แต่ง	Afshar, Amir.
พิมพลักษณ์	Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
เลขเรียก	TK7874 A3,621.3815 A517P 1995
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลศรีวิชัย ..more มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลศรีวิชัย มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี

3

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	Production testing of RF and system-on-a-chip devices for wireless communications / Keith B. Schaub,...
ชื่อผู้แต่ง	Schaub, Keith B.
พิมพลักษณ์	Norwood, MA : Artech House, c2004.
เลขเรียก	TK7895.E42 S33 2004
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี

4

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	Recombination lifetime measurements in silicon / Dinesh C. Gupta, Fred R. Bacher, and William M. Hu...
พิมพลักษณ์	West Conshohocken, PA : ASTM, c1998.
เลขเรียก	TK7871.852 .R43 1998,621.38152 R311
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ มหาวิทยาลัยเชียงใหม่ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี มหาวิทยาลัยอุบลราชธานี

5

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder.
ชื่อผู้แต่ง	Schroder, Dieter k.
พิมพลักษณ์	Hoboken, NJ : Wiley, c2006.
เลขเรียก	QC611 S3 2006
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลกรุงเทพ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี ..more มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลกรุงเทพ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี มหาวิทยาลัยอุบลราชธานี

6

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits / Sudarshan Bahukudumbi, Krishne...
ชื่อผู้แต่ง	Bahukudumbi, Sudarshan.
พิมพลักษณ์	Boston : Artech House, 2010.
เลขเรียก	TK7874 B35 2010
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี

1

ส่งข้อเสนอแนะ/ปัญหา