| Type |  Book |
| ชื่อเรื่อง | LSI / VLSI testability design / Fank F. Tsui |
| ผู้แต่ง | Tsui, Fank f |
| ISBN | 0071003568 (pbk.) |
| | 0071003568 323 (pbk.) |
| พิมพลักษณ์ | Singapore : McGraw-Hill, c1988 |
| ครั้งที่พิมพ์ | international ed |
| รูปเล่ม | xv, 702 p. : ill |
| หัวเรื่อง | Integrated circuits --Large scale integration --Testing [] |
| | Integrated circuits --Very large scale integration --Testing [] |