หน้าหลัก
สถิติ
รายงานสถิติ
รายการขอยืมที่กำลังดำเนินการ
รายงาน
เข้าสู่ระบบ
ลงทะเบียน
ภาษาไทย
English
ค้นหา
ทั้งหมด
ชื่อเรื่อง
ชื่อผู้แต่ง
หัวเรื่อง
แท็ก
ISBN/ISSN
Call number LC
Call number DC
Call number NLM
Search within results
New search
คำค้น
Subject
Semiconductors -- Testing
ปีที่พิมพ์
2017 (1)
2010 (1)
2009 (1)
2007 (1)
2006 (1)
..more
ประเภทสื่อ
Book (28)
ภูมิภาค
ภาคใต้ (2)
ภาคตะวันออกเฉียงเหนือ (10)
ภาคเหนือ (4)
ภาคกลาง(กรุงเทพและปริมณฑล) (22)
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยพะเยา (1)
มหาวิทยาลัยอุบลราชธานี (3)
มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ (3)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี (6)
มหาวิทยาลัยศิลปากร (1)
..more
ภาษา
tha (1)
eng (27)
ผลการค้นหา
Found:
28
ชื่อเรื่อง เรียงลำดับโดย:
Relevance
Title A-Z
Pub date (newest)
Pub date (oldest)
Author A-Z
Call Number
แสดง
:
5
10
15
20
25
30
ต่อหน้า
List(0)
Select Page
|
Deselect Page
|
ส่งออก
|
เคลียร์
1
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Data mining and diagnosing IC fails / Leendert M. Huisman.
ชื่อผู้แต่ง
Huisman, Leendert m.
พิมพลักษณ์
New York, N.Y. : Springer, c2005.
เลขเรียก
TK7874 .H85 2005
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
2
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits / Manoj Sachdev and Jose Pineda de Gyvez
ชื่อผู้แต่ง
Sachdev, Manoj
พิมพลักษณ์
Dordrecht : Springer, c2007
เลขเรียก
TK7871.99.M44 SAC 2007
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
3
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Electrical characterization of GaAs materials and devices / David C. Look.
ชื่อผู้แต่ง
Look, David C.
พิมพลักษณ์
Chichester : John Wiley, c1989
เลขเรียก
TK7871.15.G3 L6
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
4
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Electronic failure analysis handbook / Perrry L. Martin.
ชื่อผู้แต่ง
Martin, Perrry l.
พิมพลักษณ์
New York : McGraw-Hill, [2000].
เลขเรียก
TK 7871 .M37 1999,621.381
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี
มหาวิทยาลัยบูรพา
มหาวิทยาลัยพะเยา
มหาวิทยาลัยมหิดล
มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ
5
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Emerging semiconductor technology : a symposium / sponsored by ASTM Committee F-1 on Electronics, Sa...
พิมพลักษณ์
Philadelphia, PA : American Society for Testing and Materials, c1987.
เลขเรียก
TK7871.85 .E53 1987
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยอุบลราชธานี
6
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
ESD : failure mechanisms and models / Steven H. Voldman.
ชื่อผู้แต่ง
Voldman, Steven h.
พิมพลักษณ์
Chichester, West Sussex, U.K. : John Wiley & Sons, 2009.
เลขเรียก
TK7871.852 V65 2009,621.381 Vo914E
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยบูรพา
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
7
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Handbook of solid-state troubleshooting / Hershal Gardner.
ชื่อผู้แต่ง
Gardner, Hershal.
พิมพลักษณ์
Reston : Reston, c1976.
เลขเรียก
TK7871.85 G3
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
8
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Handbook of solid-state troubleshooting / Hershal Gardner.
ชื่อผู้แต่ง
Gardner, Hershal.
พิมพลักษณ์
Reston, Va. : Reston Pub. Co., c1976.
เลขเรียก
TK7871.85 H236 1976
ห้องสมุด
จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
9
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Integrated circuit manufacturability : the art of process and design intergration / edited by Jose...
พิมพลักษณ์
New York : Institute of Electrical Electronics Engineers, Inc., 1999.
เลขเรียก
TK7874 I61
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยขอนแก่น
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ
10
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
JIS HANDBOOK : Electronics-Test Method / JSA
ชื่อผู้แต่ง
Japanese standards association
พิมพลักษณ์
Tokyo : Japanese Standards Association, c1994
เลขเรียก
TA368 JAP 1994
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
11
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Manual of solid state circuit design and troubleshooting / V. Robinson.
ชื่อผู้แต่ง
Robinson, Vester.
พิมพลักษณ์
Reston, Va. : Reston, [c1977]
เลขเรียก
621.38153042 R665M
ห้องสมุด
จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
12
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Microvias : for low-cost, high-density interconnects [electronic resource] / John H. Lau, S.W. Ric...
ชื่อผู้แต่ง
Lau, John h.
พิมพลักษณ์
New York : McGraw-Hill, [2001].
เลขเรียก
621.381046
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยบูรพา
มหาวิทยาลัยเชียงใหม่
13
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices / edited by Jay N. Zemel
ชื่อผู้แต่ง
NATO scientific affairs division
พิมพลักษณ์
USA : Springer, 1979
เลขเรียก
TK7871.85 NAT 1979
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
14
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Principles of semiconductor network testing / Amir Afshar.
ชื่อผู้แต่ง
Afshar, Amir.
พิมพลักษณ์
Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
เลขเรียก
TK7874 A3,621.3815 A517P 1995
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลศรีวิชัย
..more
×
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลศรีวิชัย
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
15
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Production testing of RF and system-on-a-chip devices for wireless communications / Keith B. Schaub,...
ชื่อผู้แต่ง
Schaub, Keith B.
พิมพลักษณ์
Norwood, MA : Artech House, c2004.
เลขเรียก
TK7895.E42 S33 2004
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
1
2
Loading...
ส่งข้อเสนอแนะ/ปัญหา