หน้าหลัก
สถิติ
รายงานสถิติ
รายการขอยืมที่กำลังดำเนินการ
รายงาน
เข้าสู่ระบบ
ลงทะเบียน
ภาษาไทย
English
ค้นหา
ทั้งหมด
ชื่อเรื่อง
ชื่อผู้แต่ง
หัวเรื่อง
แท็ก
ISBN/ISSN
Call number LC
Call number DC
Call number NLM
Search within results
New search
คำค้น
Subject
Semiconductor testing
ปีที่พิมพ์
2009 (1)
2006 (1)
2003 (1)
2000 (1)
1997 (1)
..more
ประเภทสื่อ
Book (11)
ภูมิภาค
ภาคใต้ (1)
ภาคตะวันออกเฉียงเหนือ (5)
ภาคกลาง(กรุงเทพและปริมณฑล) (10)
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยอุบลราชธานี (3)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี (2)
มหาวิทยาลัยศิลปากร (1)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี (1)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลศรีวิชัย (1)
..more
ภาษา
eng (11)
ผลการค้นหา
Found:
11
ชื่อเรื่อง เรียงลำดับโดย:
Relevance
Title A-Z
Pub date (newest)
Pub date (oldest)
Author A-Z
Call Number
แสดง
:
5
10
15
20
25
30
ต่อหน้า
List(0)
Select Page
|
Deselect Page
|
ส่งออก
|
เคลียร์
1
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Defects in microelectronic materials and devices [electronic resource] / edited by Daniel M. Fleetwo...
พิมพลักษณ์
Boca Raton, FL. : CRC Press, c2009.
เลขเรียก
TK7871
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
มหาวิทยาลัยอุบลราชธานี
2
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Electron beam testing technology / edited by John T. L. Thong
พิมพลักษณ์
New York : Plenum, c1993
เลขเรียก
TK7871.85 EIE 1993
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
3
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Emerging semiconductor technology : a symposium / sponsored by ASTM Committee F-1 on Electronics, Sa...
พิมพลักษณ์
Philadelphia, PA : American Society for Testing and Materials, c1987.
เลขเรียก
TK7871.85 .E53 1987
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยอุบลราชธานี
4
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits [electronic reso...
ชื่อผู้แต่ง
Bushnell, Michael l.
พิมพลักษณ์
Boston : Kluwer Academic, c2000.
เลขเรียก
TK7874.75
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
5
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
High performance memory testing : design principles, fault modeling, and self-test / R. Dean Adams
ชื่อผู้แต่ง
Adams, R. Dean
พิมพลักษณ์
Boston : Kluwer Academic, c2003
เลขเรียก
TK7895.M4 ADA 2003
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
6
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Principles of semiconductor network testing / Amir Afshar.
ชื่อผู้แต่ง
Afshar, Amir.
พิมพลักษณ์
Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
เลขเรียก
TK7874 A3,621.3815 A517P 1995
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลศรีวิชัย
..more
×
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลศรีวิชัย
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
7
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder.
ชื่อผู้แต่ง
Schroder, Dieter k.
พิมพลักษณ์
Hoboken, NJ : Wiley, c2006.
เลขเรียก
QC611 S3 2006
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลกรุงเทพ
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
..more
×
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลกรุงเทพ
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
มหาวิทยาลัยอุบลราชธานี
8
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Semiconductor material and device characterization /cDieter K. Schroder.
ชื่อผู้แต่ง
Schroder, Dieter k.
พิมพลักษณ์
New York : John Wildy, c1990.
เลขเรียก
QC611 S37 1990
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยศิลปากร
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
9
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Semiconductor memories : technology, testing, and reliability / Ashok K. Sharma
ชื่อผู้แต่ง
Sharma, Ashok k
พิมพลักษณ์
Piscataway, N.J. : IEEE Press, c1997
เลขเรียก
TK7895.M4 SHA 1997,621.39 s526s
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลอีสาน วิทยาเขตนครราชสีมา
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
10
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Testing semiconductor memories theory and practice / A.J. Van De Goor
ชื่อผู้แต่ง
Van de goor, A. j
พิมพลักษณ์
Chichester : John Wiley, c1991
เลขเรียก
TK7895.M4 VAN 1991
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
11
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
The role of microscopy in semiconductor failure analysis / B.P. Richards and P.K. Footner
ชื่อผู้แต่ง
Richards, B.P
พิมพลักษณ์
Oxford : Oxford University Press, c1992
เลขเรียก
TK7871.85 RIC 1992
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
1
Loading...
ส่งข้อเสนอแนะ/ปัญหา