Found: 11  ชื่อเรื่อง เรียงลำดับโดย: แสดง:   ต่อหน้า List(0)
1
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องDefects in microelectronic materials and devices [electronic resource] / edited by Daniel M. Fleetwo...
พิมพลักษณ์Boca Raton, FL. : CRC Press, c2009.
เลขเรียกTK7871
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
มหาวิทยาลัยอุบลราชธานี
2
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องElectron beam testing technology / edited by John T. L. Thong
พิมพลักษณ์New York : Plenum, c1993
เลขเรียกTK7871.85 EIE 1993
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
3
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องEmerging semiconductor technology : a symposium / sponsored by ASTM Committee F-1 on Electronics, Sa...
พิมพลักษณ์Philadelphia, PA : American Society for Testing and Materials, c1987.
เลขเรียกTK7871.85 .E53 1987
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยอุบลราชธานี
4
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องEssentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits [electronic reso...
ชื่อผู้แต่งBushnell, Michael l.
พิมพลักษณ์Boston : Kluwer Academic, c2000.
เลขเรียกTK7874.75
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
5
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องHigh performance memory testing : design principles, fault modeling, and self-test / R. Dean Adams
ชื่อผู้แต่งAdams, R. Dean
พิมพลักษณ์Boston : Kluwer Academic, c2003
เลขเรียกTK7895.M4 ADA 2003
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
6
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องPrinciples of semiconductor network testing / Amir Afshar.
ชื่อผู้แต่งAfshar, Amir.
พิมพลักษณ์Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
เลขเรียกTK7874 A3,621.3815 A517P 1995
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลศรีวิชัย
..more
8
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องSemiconductor material and device characterization /cDieter K. Schroder.
ชื่อผู้แต่งSchroder, Dieter k.
พิมพลักษณ์New York : John Wildy, c1990.
เลขเรียกQC611 S37 1990
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยศิลปากร
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
9
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องSemiconductor memories : technology, testing, and reliability / Ashok K. Sharma
ชื่อผู้แต่งSharma, Ashok k
พิมพลักษณ์Piscataway, N.J. : IEEE Press, c1997
เลขเรียกTK7895.M4 SHA 1997,621.39 s526s
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลอีสาน วิทยาเขตนครราชสีมา
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
10
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องTesting semiconductor memories theory and practice / A.J. Van De Goor
ชื่อผู้แต่งVan de goor, A. j
พิมพลักษณ์Chichester : John Wiley, c1991
เลขเรียกTK7895.M4 VAN 1991
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
11
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องThe role of microscopy in semiconductor failure analysis / B.P. Richards and P.K. Footner
ชื่อผู้แต่งRichards, B.P
พิมพลักษณ์Oxford : Oxford University Press, c1992
เลขเรียกTK7871.85 RIC 1992
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี

© 2013-2019 UCTAL. All Rights Reserved.
สนับสนุนโดย สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา กระทรวงการอุดมศึกษา วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม ThaiLIS | Power by สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา