หน้าหลัก
สถิติ
รายงานสถิติ
รายการขอยืมที่กำลังดำเนินการ
รายงาน
เข้าสู่ระบบ
ลงทะเบียน
ภาษาไทย
English
ค้นหา
ทั้งหมด
ชื่อเรื่อง
ชื่อผู้แต่ง
หัวเรื่อง
แท็ก
ISBN/ISSN
Call number LC
Call number DC
Call number NLM
Search within results
New search
คำค้น
Subject
Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
ปีที่พิมพ์
2011 (1)
2008 (2)
2006 (1)
2000 (1)
1999 (1)
..more
ประเภทสื่อ
Book (15)
ภูมิภาค
ภาคใต้ (1)
ภาคตะวันออกเฉียงเหนือ (2)
ภาคเหนือ (3)
ภาคกลาง(กรุงเทพและปริมณฑล) (13)
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยพะเยา (1)
มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ (1)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี (1)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลพระนคร (1)
มหาวิทยาลัยสงขลานครินทร์(หาดใหญ่) (1)
..more
ภาษา
eng (15)
ผลการค้นหา
Found:
15
ชื่อเรื่อง เรียงลำดับโดย:
Relevance
Title A-Z
Pub date (newest)
Pub date (oldest)
Author A-Z
Call Number
แสดง
:
5
10
15
20
25
30
ต่อหน้า
List(0)
Select Page
|
Deselect Page
|
ส่งออก
|
เคลียร์
1
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Design methodologies / edited by S. Goto.
พิมพลักษณ์
Amsterdam : Elsevier Science, c1986.
เลขเรียก
TK7874 .D4755 1986
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
2
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Digital circuit testing and testability / Parag K. Lala.
ชื่อผู้แต่ง
Lala, Parag k.
พิมพลักษณ์
San Diego, Calif. : Academic Pr., c1997.
เลขเรียก
TK7874.75 L193,621.395 La193D
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยขอนแก่น
มหาวิทยาลัยเชียงใหม่
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลพระนคร
..more
×
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยขอนแก่น
มหาวิทยาลัยเชียงใหม่
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลพระนคร
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
มหาวิทยาลัยมหาสารคาม
3
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Digital hardware testing : transistor-level fault modeling and testing / Rochit Rajsuman.
ชื่อผู้แต่ง
Rajsuman, Rochit.
พิมพลักษณ์
Boston : Artech House, c1992.
เลขเรียก
TK7888.4 R3
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
4
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Digital hardware testing : transistor-level fault modeling and testing / Rochit Rajsuman.
ชื่อผู้แต่ง
Rajsuman, Rochit.
พิมพลักษณ์
Boston : Artech House, c1992.
เลขเรียก
621.395 R161D
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเชียงใหม่
5
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits [electronic reso...
ชื่อผู้แต่ง
Bushnell, Michael l.
พิมพลักษณ์
Boston : Kluwer Academic, c2000.
เลขเรียก
TK7874.75
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
6
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
From contamination to defects, faults and yield loss : simulation and applications / by Jitendra B...
ชื่อผู้แต่ง
Khare, Jitendra B.
พิมพลักษณ์
Boston : Kluwer Academic, c1996.
เลขเรียก
TK7874.75 K4
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
7
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Genetic algorithms for VLSI design, layout & Test automation / Pinaki Mazumder, Elizabeth M. Rudnic...
ชื่อผู้แต่ง
Mazumder, Pinaki.
พิมพลักษณ์
Upper Saddle River, N.J. : Prentice-Hall PTR, c1999.
เลขเรียก
TK7874.75 .M39 1999
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
8
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
High-Level test synthesis of digital VLSI circuits / Mike Tien-Chien Lee.
ชื่อผู้แต่ง
Lee, Mike Tien-Chien.
พิมพลักษณ์
Boston : Artech House, c1997.
เลขเรียก
TK7874.75 .L44 1997
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
9
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Hybrid selective x-masking and x-canceling multiple input singnature register for test data compress...
ชื่อผู้แต่ง
Xu shubing
พิมพลักษณ์
2011
เลขเรียก
TK7874 X87 2011
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยสงขลานครินทร์(หาดใหญ่)
10
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Introduction to VLSI testing / Robert J. Feugate, Steven M. McIntyre.
ชื่อผู้แต่ง
Feugate, Robert J.
พิมพลักษณ์
Englewood Cliffs, N.J. : Prentice-Hall, c1988.
เลขเรียก
TK7874 .F48 1988
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
11
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
LSI / VLSI testability design / Fank F. Tsui.
ชื่อผู้แต่ง
Tsui, Fank f.
พิมพลักษณ์
Singapore : McGraw-Hill, c1988.
เลขเรียก
TK7874 T882L 1988
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ
12
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
LSI/VLSI testability design / Frank F. Tsui.
ชื่อผู้แต่ง
Tsui, Frank f.
พิมพลักษณ์
New York : McGraw-Hill, c1988.
เลขเรียก
TH7874 .T78 1988
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
13
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Nanometer technology designs : high-quality delay tests / Mohammad Tehranipoor, Nisar Ahmed.
ชื่อผู้แต่ง
Tehranipoor, Mohammad.
พิมพลักษณ์
New York : Springer, c2007
เลขเรียก
T174.7 T4n
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยขอนแก่น
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
14
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
System-on-chip test architectures : nanometer design for testability / edited by Laung-Terng Wang, C...
พิมพลักษณ์
Amsterdam : Morgan Kaufmann, c2008.
เลขเรียก
TK7895.E42 S9
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
15
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
VLSI test principles and architectures : design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Chen...
พิมพลักษณ์
Amsterdam : Elsevier, c2006
เลขเรียก
TK7874.75 V6
ห้องสมุด
จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
มหาวิทยาลัยพะเยา
1
Loading...
ส่งข้อเสนอแนะ/ปัญหา