Found: 15  ชื่อเรื่อง เรียงลำดับโดย: แสดง:   ต่อหน้า List(0)
1
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องDesign methodologies / edited by S. Goto.
พิมพลักษณ์Amsterdam : Elsevier Science, c1986.
เลขเรียกTK7874 .D4755 1986
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
3
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องDigital hardware testing : transistor-level fault modeling and testing / Rochit Rajsuman.
ชื่อผู้แต่งRajsuman, Rochit.
พิมพลักษณ์Boston : Artech House, c1992.
เลขเรียกTK7888.4 R3
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
4
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องDigital hardware testing : transistor-level fault modeling and testing / Rochit Rajsuman.
ชื่อผู้แต่งRajsuman, Rochit.
พิมพลักษณ์Boston : Artech House, c1992.
เลขเรียก621.395 R161D
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเชียงใหม่
5
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องEssentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits [electronic reso...
ชื่อผู้แต่งBushnell, Michael l.
พิมพลักษณ์Boston : Kluwer Academic, c2000.
เลขเรียกTK7874.75
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
6
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องFrom contamination to defects, faults and yield loss : simulation and applications / by Jitendra B...
ชื่อผู้แต่งKhare, Jitendra B.
พิมพลักษณ์Boston : Kluwer Academic, c1996.
เลขเรียกTK7874.75 K4
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
7
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องGenetic algorithms for VLSI design, layout & Test automation / Pinaki Mazumder, Elizabeth M. Rudnic...
ชื่อผู้แต่งMazumder, Pinaki.
พิมพลักษณ์Upper Saddle River, N.J. : Prentice-Hall PTR, c1999.
เลขเรียกTK7874.75 .M39 1999
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
8
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องHigh-Level test synthesis of digital VLSI circuits / Mike Tien-Chien Lee.
ชื่อผู้แต่งLee, Mike Tien-Chien.
พิมพลักษณ์Boston : Artech House, c1997.
เลขเรียกTK7874.75 .L44 1997
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
9
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องHybrid selective x-masking and x-canceling multiple input singnature register for test data compress...
ชื่อผู้แต่งXu shubing
พิมพลักษณ์2011
เลขเรียกTK7874 X87 2011
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยสงขลานครินทร์(หาดใหญ่)
10
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องIntroduction to VLSI testing / Robert J. Feugate, Steven M. McIntyre.
ชื่อผู้แต่งFeugate, Robert J.
พิมพลักษณ์Englewood Cliffs, N.J. : Prentice-Hall, c1988.
เลขเรียกTK7874 .F48 1988
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
11
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องLSI / VLSI testability design / Fank F. Tsui.
ชื่อผู้แต่งTsui, Fank f.
พิมพลักษณ์Singapore : McGraw-Hill, c1988.
เลขเรียกTK7874 T882L 1988
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ
12
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องLSI/VLSI testability design / Frank F. Tsui.
ชื่อผู้แต่งTsui, Frank f.
พิมพลักษณ์New York : McGraw-Hill, c1988.
เลขเรียกTH7874 .T78 1988
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
13
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องNanometer technology designs : high-quality delay tests / Mohammad Tehranipoor, Nisar Ahmed.
ชื่อผู้แต่งTehranipoor, Mohammad.
พิมพลักษณ์New York : Springer, c2007
เลขเรียกT174.7 T4n
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยขอนแก่น
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
14
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องSystem-on-chip test architectures : nanometer design for testability / edited by Laung-Terng Wang, C...
พิมพลักษณ์Amsterdam : Morgan Kaufmann, c2008.
เลขเรียกTK7895.E42 S9
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี

© 2013-2019 UCTAL. All Rights Reserved.
สนับสนุนโดย สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา กระทรวงการอุดมศึกษา วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม ThaiLIS | Power by สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา