book cover
Type Book
ชื่อเรื่องDigital circuit testing and testability / Parag K. Lala
ผู้แต่งLala, Parag k
ISBN0-12-434330-9
 0-12-434330-9 (hbk.)
 0124343309 (alk. paper) : ฿3495.00
พิมพลักษณ์San Diego, Calif. : Academic Pr., c1997
รูปเล่มxii, 199 p. : ill
หัวเรื่องDigital integrated circuits
 DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS --TESTING []
 Integrated circuits
 INTEGRATED CIRCUITS --FAULT TOLERANCE []
 INTEGRATED CIRCUITS --VERY LARGE SCALE INTEGRATION --TESTING []
 Testing
 Very large scale integration of circuits

1
 มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์

50 ถนนงามวงศ์วาน แขวงลาดยาว เขตจตุจักร กรุงเทพฯ 10900

Loading items...

2
 มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลพระนคร

399 ถ.สามเสน แขวงวชิรพยาบาล เขตดุสิต กรุงเทพฯ 10300

Loading items...

3
 มหาวิทยาลัยขอนแก่น

123 Mittapap Rd., Nai-Muang, Muang District, Khon Kaen 40002,Thailand.

Loading items...

4
 มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี

111 ถ.มหาวิทยาลัย ต.สุรนารี อ.เมือง จ.นครราชสีมา 3000

Loading items...

5
 มหาวิทยาลัยเชียงใหม่

239 ถนน ห้วยแก้ว ตำบลสุเทพ อำเภอเมืองเชียงใหม่ เชียงใหม่ 50200

Loading items...

6
 มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี

126 ถนนประชาอุทิศ แขวงบางมด เขตทุ่งครุ กรุงเทพฯ 10140

Loading items...

7
 มหาวิทยาลัยมหาสารคาม

สำนักวิทยบริการ มหาวิทยาลัยมหาสารคาม ต. ขามเรียง อ.กันทรวิชัย จ. มหาสารคาม 44150

Loading items...


© 2013-2019 UCTAL. All Rights Reserved.
สนับสนุนโดย สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา กระทรวงการอุดมศึกษา วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม ThaiLIS | Power by สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา