| Type |  Book |
| ชื่อเรื่อง | Modeling nanoscale imaging in electron microscopy / edited by Thomas Vogt, Wolfgang Dahmen, Peter Binev |
| ISBN | 9781461421900 |
| | 9781461421917 |
| พิมพลักษณ์ | Boston, MA : Springer US, c2012 |
| รูปเล่ม | 1 online resource |
| หัวเรื่อง | Electronic books |
| | Image analysis |
| | Scanning transmission electron microscopy |
| | Simulation methods |