หน้าหลัก
สถิติ
รายงานสถิติ
รายการขอยืมที่กำลังดำเนินการ
รายงาน
เข้าสู่ระบบ
ลงทะเบียน
ภาษาไทย
English
ค้นหา
ทั้งหมด
ชื่อเรื่อง
ชื่อผู้แต่ง
หัวเรื่อง
แท็ก
ISBN/ISSN
Call number LC
Call number DC
Call number NLM
Search within results
New search
คำค้น
Language
eng
Subject
ATOMIC FORCE MICROSCOPY
Region
ภาคกลาง(กรุงเทพและปริมณฑล)
ปีที่พิมพ์
2017 (2)
2013 (1)
2012 (4)
2010 (1)
2009 (1)
..more
ประเภทสื่อ
Book (10)
ภูมิภาค
ภาคตะวันออกเฉียงเหนือ (1)
ภาคเหนือ (1)
ภาคกลาง(กรุงเทพและปริมณฑล) (10)
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยอุบลราชธานี (1)
มหาวิทยาลัยนเรศวร (1)
มหาวิทยาลัยมหิดล (1)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี (6)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ (3)
..more
ภาษา
eng (10)
ผลการค้นหา
Found:
10
ชื่อเรื่อง เรียงลำดับโดย:
Relevance
Title A-Z
Pub date (newest)
Pub date (oldest)
Author A-Z
Call Number
แสดง
:
5
10
15
20
25
30
ต่อหน้า
List(0)
Select Page
|
Deselect Page
|
ส่งออก
|
เคลียร์
1
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Amplitude modulation atomic force microscopy / Ricardo García.
ชื่อผู้แต่ง
García, Ricardo.
พิมพลักษณ์
Weinheim : Wiley-VCH, c2010
เลขเรียก
QH212.A78 G3
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
2
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Atom probe microscopy [electronic resource] / Baptiste Gault ... [et al.]
พิมพลักษณ์
New York, NY : Springer, c2012
เลขเรียก
QH212.A78 ATO 2012
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
3
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications / Greg Haugstad.
ชื่อผู้แต่ง
Haugstad, Greg 1963-
พิมพลักษณ์
Hoboken, N.J. : John Wiley & Sons, c2012.
เลขเรียก
QH212.A78 H371a 2012
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยมหิดล
มหาวิทยาลัยนเรศวร
มหาวิทยาลัยอุบลราชธานี
4
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Atomic force microscopy based nanorobotics [electronic resource] : modelling, simulation, setup buil...
พิมพลักษณ์
Berlin, Heidelberg : Springer, c2012
เลขเรียก
TJ211 ATO 2012
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
5
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Atomic force microscopy in process engineering [electronic resource] : introduction to AFM for imp...
พิมพลักษณ์
Oxford ; Burlington, MA : Elsevier/Butterworth-Heinemann, 2009.
เลขเรียก
620.5
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยบูรพา
6
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Conductive atomic force microscopy [electronic resource] : applications in nanomaterials / edited by...
พิมพลักษณ์
Weinheim : Wiley, 2017.
เลขเรียก
QH212.A78
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
7
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Kelvin probe force microscopy [electronic resource] : measuring and compensating electrostatic force...
พิมพลักษณ์
Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, c2012
เลขเรียก
QH212.A78 KEL 2012
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
8
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Scanned probe microscopy / edited by H. Kumar Wickramasinghe
ชื่อผู้แต่ง
Conference on scanned probe microscopies-stm and beyond 1991 : Santa barbara, Calif.)
พิมพลักษณ์
New York : AIP, c1992
เลขเรียก
QH212.S33 CON 1992
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
9
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Single-molecule studies of proteins / edited by Andres F. Oberhauser
พิมพลักษณ์
New York, NY : Springer New York, c2013
เลขเรียก
QP551 SIN 2013
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
10
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
The world of nano-biomechanics [electronic resource] / edited by Atsushi Ikai.
พิมพลักษณ์
Amsterdam ; Boston : Elsevier, 2017.
เลขเรียก
QH513
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
1
Loading...
ส่งข้อเสนอแนะ/ปัญหา