book cover
Type Book
ชื่อเรื่องProceedings International Test Conference 1991 / sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section
ผู้แต่งInstitute of electrical and electronics engineers. Proceedings (1991 : Nashville, Tn, Usa)
ISBN0819691565 (pbk)
พิมพลักษณ์Altoona, PA : ITC, c1991
รูปเล่ม1135 p. : ill
หัวเรื่องElectronic digital computer testing
 Integrated circuit testing

1
 มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี

126 ถนนประชาอุทิศ แขวงบางมด เขตทุ่งครุ กรุงเทพฯ 10140

Loading items...


© 2013-2019 UCTAL. All Rights Reserved.
สนับสนุนโดย สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา กระทรวงการอุดมศึกษา วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม ThaiLIS | Power by สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา