| Type |  Book |
| ชื่อเรื่อง | Semiconductor devices in harsh conditions / edited by Kirsten Weide-Zaage, Malgorzata Chrzanowska-Jeske |
| ISBN | 1498743803 (hbk.) |
| | 9781498743808 (hbk.) |
| พิมพลักษณ์ | Boca Raton, Fla. : CRC Press, c2017 |
| รูปเล่ม | 234 p. : ill. ; 26 cm |
| หัวเรื่อง | Environmental testing |
| | Extreme environments |
| | Semiconductors --Reliability [] |