book cover
Type Book
ชื่อเรื่องIn-circuit testing / John Bateson
ผู้แต่งBateson, John
ISBN0442212844
พิมพลักษณ์New York : Van Nostrand Reinhold, c1985
รูปเล่ม243 p. : ill
หัวเรื่องPrinted circuits

1
 มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี

126 ถนนประชาอุทิศ แขวงบางมด เขตทุ่งครุ กรุงเทพฯ 10140

Loading items...


© 2013-2019 UCTAL. All Rights Reserved.
สนับสนุนโดย สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา กระทรวงการอุดมศึกษา วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม ThaiLIS | Power by สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา