หน้าหลัก
สถิติ
รายงานสถิติ
รายการขอยืมที่กำลังดำเนินการ
รายงาน
เข้าสู่ระบบ
ลงทะเบียน
ภาษาไทย
English
ค้นหา
ทั้งหมด
ชื่อเรื่อง
ชื่อผู้แต่ง
หัวเรื่อง
แท็ก
ISBN/ISSN
Call number LC
Call number DC
Call number NLM
Search within results
New search
คำค้น
Subject
-- Circuit testing
Location
มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ
Publish year
1995
ปีที่พิมพ์
1995 (2)
ประเภทสื่อ
Book (2)
ภูมิภาค
ภาคตะวันออกเฉียงเหนือ (1)
ภาคกลาง(กรุงเทพและปริมณฑล) (2)
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ (2)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี (1)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลพระนคร (1)
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์ (1)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี (2)
ภาษา
eng (2)
ผลการค้นหา
Found:
2
ชื่อเรื่อง เรียงลำดับโดย:
Relevance
Title A-Z
Pub date (newest)
Pub date (oldest)
Author A-Z
Call Number
แสดง
:
5
10
15
20
25
30
ต่อหน้า
List(0)
Select Page
|
Deselect Page
|
ส่งออก
|
เคลียร์
1
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Electronic testing and fault diagnosis / G.C. Loveday.
ชื่อผู้แต่ง
Loveday, G. c.
พิมพลักษณ์
Harlow : Longman Scientific & Technical, c1995.
เลขเรียก
TK7870.2 .L68 1995,621.38 L897E
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลพระนคร
มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ
2
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
A probabilistic analysis of test response compaction / Slawomir Pilarski and Tiko Kameda.
ชื่อผู้แต่ง
Pilarski, Slawomir.
พิมพลักษณ์
Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society Press, c1995.
เลขเรียก
TK7867 .P56 1995
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
1
Loading...
ส่งข้อเสนอแนะ/ปัญหา