สหบรรณานุกรมห้องสมุดสถาบันอุดมศึกษาไทย

| |

Type	Book
ชื่อเรื่อง	X-ray metrology in semiconductor manufacturing [electronic resource] / D. Keith Bowen and Brian K. Tanner
ผู้แต่ง	Bowen, D. keith
ISBN	9781315222035 (ebook)
	9780849339288 (hc)
พิมพลักษณ์	Boca Raton, FL : CRC/Taylor & Francis, 2006
รูปเล่ม	273 p. : ill
ลิงค์	Taylor & Francis eBooks
หัวเรื่อง	Fluroscopy
	X-rays diffraction
	Semiconductors --Design and construction --Quality control []
	Semiconductor wafers --Inspection []
	Integrated circuits --Measurement []

1	มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ แขวง วงศ์สว่าง เขต บางซื่อ กรุงเทพมหานคร 10800 Loading items...
2	มหาวิทยาลัยแม่โจ้ 63 หมู่ 4 ตำบลหนองหาร อำเภอสันทราย จังหวัดเชียงใหม่ 50290 Loading items...
3	มหาวิทยาลัยขอนแก่น 123 Mittapap Rd., Nai-Muang, Muang District, Khon Kaen 40002,Thailand. Loading items...
4	มหาวิทยาลัยอุบลราชธานี 85 ตำบล เมืองศรีไค อำเภอวารินชำราบ อุบลราชธานี 34190 Loading items...
5	มหาวิทยาลัยบูรพา 169 ถนนลงหาดบางแสน ต.แสนสุข อ.เมือง จ. ชลบุรี 20131 Loading items...