| Type |  Book |
| ชื่อเรื่อง | A probabilistic analysis of test response compaction / Slawomir Pilarski and Tiko Kameda |
| ผู้แต่ง | Pilarski, Slawomir |
| ISBN | 0818665327 (paper) ฿1015.00 |
| | 0818665327 1,400 |
| | 0818665327 (pbk) |
| พิมพลักษณ์ | Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society Press, c1995 |
| รูปเล่ม | x, 95 p. : ill. ; 26 cm |
| หัวเรื่อง | Electronic circuits --Testing [] |
| | Fault-tolerant computing |
| | Probabilities |
| | Electronic circuit testing |