book cover
Type Book
ชื่อเรื่องReliability of RoHS-Compliant 2D and 3D IC interconnects / John H. Lau
ผู้แต่งLau, John h
ISBN0071753796
 9780071753791
พิมพลักษณ์New York : McGraw-Hill, c2011
รูปเล่ม606 p. : ill. (some col.)
หัวเรื่องGreen technology
 Interconnects (Integrated circuit technology)

1
 มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี

126 ถนนประชาอุทิศ แขวงบางมด เขตทุ่งครุ กรุงเทพฯ 10140

Loading items...


© 2013-2019 UCTAL. All Rights Reserved.
สนับสนุนโดย สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา กระทรวงการอุดมศึกษา วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม ThaiLIS | Power by สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา