หน้าหลัก
สถิติ
รายงานสถิติ
รายการขอยืมที่กำลังดำเนินการ
รายงาน
เข้าสู่ระบบ
ลงทะเบียน
ภาษาไทย
English
ค้นหา
ทั้งหมด
ชื่อเรื่อง
ชื่อผู้แต่ง
หัวเรื่อง
แท็ก
ISBN/ISSN
Call number LC
Call number DC
Call number NLM
Search within results
New search
คำค้น
Subject
Very high speed integrated circuits -- Testing
ปีที่พิมพ์
2011 (1)
2010 (1)
ประเภทสื่อ
Book (2)
ภูมิภาค
ภาคใต้ (1)
ภาคกลาง(กรุงเทพและปริมณฑล) (1)
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยวลัยลักษณ์ (1)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ (1)
ภาษา
eng (2)
ผลการค้นหา
Found:
2
ชื่อเรื่อง เรียงลำดับโดย:
Relevance
Title A-Z
Pub date (newest)
Pub date (oldest)
Author A-Z
Call Number
แสดง
:
5
10
15
20
25
30
ต่อหน้า
List(0)
Select Page
|
Deselect Page
|
ส่งออก
|
เคลียร์
1
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces [electronic resource] / Yong...
ชื่อผู้แต่ง
Fan, Yongquan 1970-.
พิมพลักษณ์
Dordrecht ; London : Springer, 2011.
เลขเรียก
TK7868.I58 F36 2011eb
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยวลัยลักษณ์
2
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
An engineer's guide to automated testing of high-speed interfaces / Jose Moreira, Hubert Werkmann.
ชื่อผู้แต่ง
Moreira, Jose.
พิมพลักษณ์
Boston : Artech House, c2010.
เลขเรียก
TK7871.99.M44 M6
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
1
Loading...
ส่งข้อเสนอแนะ/ปัญหา