สหบรรณานุกรมห้องสมุดสถาบันอุดมศึกษาไทย

Found: 48 ชื่อเรื่อง เรียงลำดับโดย: แสดง: ต่อหน้า

List(0)

Select Page | Deselect Page |

ส่งออก | เคลียร์

1

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces [electronic resource] / Yong...
ชื่อผู้แต่ง	Fan, Yongquan 1970-.
พิมพลักษณ์	Dordrecht ; London : Springer, 2011.
เลขเรียก	TK7868.I58 F36 2011eb
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยวลัยลักษณ์

2

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	An engineer's guide to automated testing of high-speed interfaces / Jose Moreira, Hubert Werkmann.
ชื่อผู้แต่ง	Moreira, Jose.
พิมพลักษณ์	Boston : Artech House, c2010.
เลขเรียก	TK7871.99.M44 M6
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ

3

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	An introduction to mixed-signal IC test and measurement / Mark Burns, Gordon W. Roberts.
ชื่อผู้แต่ง	Burns, Mark.
พิมพลักษณ์	New York : Oxford University Press, c2000
เลขเรียก	TK7874 B87,621.3815 B967I
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลกรุงเทพ

4

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	Automatic testing and evaluation of digital integrated circuits / James Thomas Healy.
ชื่อผู้แต่ง	Healy, James thomas.
พิมพลักษณ์	Reston : Prentice-Hall, c1981.
เลขเรียก	TK7874 H395
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี

5

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	Automatic testing and evaluation of digital integrated circuits / James T. Healy.
ชื่อผู้แต่ง	Healy, James Thomas, 1940-.
พิมพลักษณ์	Reston, Va. : Reston Pub. Co., c1981.
เลขเรียก	TK7874 .H395
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยอุบลราชธานี

6

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	Computer logic testing and verification / J. Paul Roth.
ชื่อผู้แต่ง	Roth, J. paul.
พิมพลักษณ์	Taipei] : s.n., c1980.
ห้องสมุด	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย

7

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	Data mining and diagnosing IC fails / Leendert M. Huisman.
ชื่อผู้แต่ง	Huisman, Leendert m.
พิมพลักษณ์	New York, N.Y. : Springer, c2005.
เลขเรียก	TK7874 .H85 2005
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์

8

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits / Manoj Sachdev and Jose Pineda de Gyvez
ชื่อผู้แต่ง	Sachdev, Manoj
พิมพลักษณ์	Dordrecht : Springer, c2007
เลขเรียก	TK7871.99.M44 SAC 2007
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี

9

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	Defects in microelectronic materials and devices [electronic resource] / edited by Daniel M. Fleetwo...
พิมพลักษณ์	Boca Raton, FL. : CRC Press, c2009.
เลขเรียก	TK7871
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย มหาวิทยาลัยอุบลราชธานี

10

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	Design methodologies / edited by S. Goto.
พิมพลักษณ์	Amsterdam : Elsevier Science, c1986.
เลขเรียก	TK7874 .D4755 1986
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์

11

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	Designer's guide to testable asic devices / Wayne Maurice Needham.
ชื่อผู้แต่ง	Needham, Wayne Maurice.
พิมพลักษณ์	New York : Van Nostrand Reinhold, c1991.
เลขเรียก	TK7874 .N385 1991
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์

12

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	Digital circuit testing and testability / Parag K. Lala.
ชื่อผู้แต่ง	Lala, Parag k.
พิมพลักษณ์	San Diego, Calif. : Academic Pr., c1997.
เลขเรียก	TK7874.75 L193,621.395 La193D
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์ มหาวิทยาลัยขอนแก่น มหาวิทยาลัยเชียงใหม่ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลพระนคร ..more มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์ มหาวิทยาลัยขอนแก่น มหาวิทยาลัยเชียงใหม่ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลพระนคร มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี มหาวิทยาลัยมหาสารคาม

13

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	Digital hardware testing : transistor-level fault modeling and testing / Rochit Rajsuman.
ชื่อผู้แต่ง	Rajsuman, Rochit.
พิมพลักษณ์	Boston : Artech House, c1992.
เลขเรียก	TK7888.4 R3
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ

14

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	Digital hardware testing : transistor-level fault modeling and testing / Rochit Rajsuman.
ชื่อผู้แต่ง	Rajsuman, Rochit.
พิมพลักษณ์	Boston : Artech House, c1992.
เลขเรียก	621.395 R161D
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยเชียงใหม่

15

ประเภทสื่อ	Book
ชื่อเรื่อง	Digital integrated circuit testing from a quality perspective / Eugene R. Hnatek.
ชื่อผู้แต่ง	Hnatek, Eugene r.
พิมพลักษณ์	New York : Van Nostrand Reinhold, 1993.
เลขเรียก	TK 7874 .H62
ห้องสมุด	มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี มหาวิทยาลัยบูรพา

1
2
3
4

ส่งข้อเสนอแนะ/ปัญหา