Found: 44  ชื่อเรื่อง เรียงลำดับโดย: แสดง:   ต่อหน้า List(0)
1
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องIn-Circuit testing / Allen Buckroyd.
ชื่อผู้แต่งBuckroyd, Allen.
พิมพลักษณ์Jordan Hill : Butterworth-Heinemann, c1994
เลขเรียกTK 7868.P7 .B72 1994
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
2
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องManual of solid state circuit design and troubleshooting / V. Robinson.
ชื่อผู้แต่งRobinson, Vester.
พิมพลักษณ์Reston, Va. : Reston, [c1977]
เลขเรียก621.38153042 R665M
ห้องสมุดจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
3
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องTestability of electronic circuits / Mangred Weyerer and Gerald Goldemund ; translated by Klaus Sel...
ชื่อผู้แต่งWeyerer, Manfred.
พิมพลักษณ์Munich : Carl Hanser Verlag, c1992.
เลขเรียกTK7868.D5 W44t,621.3815 We547T
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยมหาสารคาม
4
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องBoundary-scan test : a practical approach / by Harry Bleeker, Peter Van Den Eijnden and Frans de Jon...
ชื่อผู้แต่งBleeker, Harry
พิมพลักษณ์Dordrecht : Kluwer Academic Publishers, c1993
เลขเรียกTK7868.P7 BLE 1993
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
5
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องElectronic testing and fault diagnosis / George Loveday
ชื่อผู้แต่งLoveday, George
พิมพลักษณ์London : Pitman, c1980
เลขเรียกTK7870.2 LOV 1980
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
6
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องPrinciples of semiconductor network testing / Amir Afshar.
ชื่อผู้แต่งAfshar, Amir.
พิมพลักษณ์Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
เลขเรียกTK7874 A3,621.3815 A517P 1995
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลศรีวิชัย
..more
7
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องTest economics and design for testability for electronic circuits and systems / C. Dislis ... [et al...
พิมพลักษณ์New York : Ellis Horwood, c1995
เลขเรียกTK7867 TES 1995
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
8
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องDigital systems testing and testable design / Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
ชื่อผู้แต่งAbramovici, Miron
พิมพลักษณ์New York : W.H. Freeman, c1990
เลขเรียกTK7874 ABR 1990
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
9
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องMcGraw-Hill circuit encyclopedia and troubleshooting guide / John D. Lenk.
ชื่อผู้แต่งLenk, John d.
พิมพลักษณ์New York : McGraw-HJILL,
เลขเรียกTK7867 L44
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยศิลปากร
มหาวิทยาลัยขอนแก่น
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
10
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องTesting and diagnosis of analog circuits and systems / edited by Ruey-wen Liu
พิมพลักษณ์New York : VNR, c1991
เลขเรียกTK7870 TES 1991
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
11
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องDigital integrated circuits
พิมพลักษณ์Santa Clara, CA : National Semiconductor Corporation, c1974
เลขเรียกTK7874 DIG 1974
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
12
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องIn-circuit testing / John Bateson
ชื่อผู้แต่งBateson, John
พิมพลักษณ์New York : Van Nostrand Reinhold, c1985
เลขเรียกTK7868.P7 BAT 1985
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
13
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องElectronic testing and fault diagnosis / G.C. Loveday.
ชื่อผู้แต่งLoveday, G. c.
พิมพลักษณ์Harlow : Longman Scientific & Technical, c1995.
เลขเรียกTK7870.2 .L68 1995,621.38 L897E
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลพระนคร
มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ
15
image
ประเภทสื่อ Book
ชื่อเรื่องComputer hardware diagnostics for engineers / Ronald E. Howland.
ชื่อผู้แต่งHowland, Ronald e.
พิมพลักษณ์New York : McGraw-Hill, c1995.
เลขเรียกTK 7888.3 .H68 1995
ห้องสมุดมหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี

© 2013-2019 UCTAL. All Rights Reserved.
สนับสนุนโดย สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา กระทรวงการอุดมศึกษา วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม ThaiLIS | Power by สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา