หน้าหลัก
สถิติ
รายงานสถิติ
รายการขอยืมที่กำลังดำเนินการ
รายงาน
เข้าสู่ระบบ
ลงทะเบียน
ภาษาไทย
English
ค้นหา
ทั้งหมด
ชื่อเรื่อง
ชื่อผู้แต่ง
หัวเรื่อง
แท็ก
ISBN/ISSN
Call number LC
Call number DC
Call number NLM
Search within results
New search
คำค้น
Subject
-- Circuit testing
ปีที่พิมพ์
2011 (1)
2007 (2)
2006 (2)
2005 (2)
2003 (1)
..more
ประเภทสื่อ
Book (43)
ภูมิภาค
ภาคใต้ (4)
ภาคตะวันออกเฉียงเหนือ (18)
ภาคเหนือ (6)
ภาคกลาง(กรุงเทพและปริมณฑล) (37)
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยวลัยลักษณ์ (2)
มหาวิทยาลัยพะเยา (1)
มหาวิทยาลัยอุบลราชธานี (2)
มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ (7)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี (10)
..more
ภาษา
tha (1)
eng (42)
ผลการค้นหา
Found:
44
ชื่อเรื่อง เรียงลำดับโดย:
Relevance
Title A-Z
Pub date (newest)
Pub date (oldest)
Author A-Z
Call Number
แสดง
:
5
10
15
20
25
30
ต่อหน้า
List(0)
Select Page
|
Deselect Page
|
ส่งออก
|
เคลียร์
1
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
In-Circuit testing / Allen Buckroyd.
ชื่อผู้แต่ง
Buckroyd, Allen.
พิมพลักษณ์
Jordan Hill : Butterworth-Heinemann, c1994
เลขเรียก
TK 7868.P7 .B72 1994
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
2
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Manual of solid state circuit design and troubleshooting / V. Robinson.
ชื่อผู้แต่ง
Robinson, Vester.
พิมพลักษณ์
Reston, Va. : Reston, [c1977]
เลขเรียก
621.38153042 R665M
ห้องสมุด
จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
3
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Testability of electronic circuits / Mangred Weyerer and Gerald Goldemund ; translated by Klaus Sel...
ชื่อผู้แต่ง
Weyerer, Manfred.
พิมพลักษณ์
Munich : Carl Hanser Verlag, c1992.
เลขเรียก
TK7868.D5 W44t,621.3815 We547T
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยมหาสารคาม
4
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Boundary-scan test : a practical approach / by Harry Bleeker, Peter Van Den Eijnden and Frans de Jon...
ชื่อผู้แต่ง
Bleeker, Harry
พิมพลักษณ์
Dordrecht : Kluwer Academic Publishers, c1993
เลขเรียก
TK7868.P7 BLE 1993
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
5
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Electronic testing and fault diagnosis / George Loveday
ชื่อผู้แต่ง
Loveday, George
พิมพลักษณ์
London : Pitman, c1980
เลขเรียก
TK7870.2 LOV 1980
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
6
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Principles of semiconductor network testing / Amir Afshar.
ชื่อผู้แต่ง
Afshar, Amir.
พิมพลักษณ์
Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
เลขเรียก
TK7874 A3,621.3815 A517P 1995
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลศรีวิชัย
..more
×
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลศรีวิชัย
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
7
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Test economics and design for testability for electronic circuits and systems / C. Dislis ... [et al...
พิมพลักษณ์
New York : Ellis Horwood, c1995
เลขเรียก
TK7867 TES 1995
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
8
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Digital systems testing and testable design / Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
ชื่อผู้แต่ง
Abramovici, Miron
พิมพลักษณ์
New York : W.H. Freeman, c1990
เลขเรียก
TK7874 ABR 1990
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
9
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
McGraw-Hill circuit encyclopedia and troubleshooting guide / John D. Lenk.
ชื่อผู้แต่ง
Lenk, John d.
พิมพลักษณ์
New York : McGraw-HJILL,
เลขเรียก
TK7867 L44
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยศิลปากร
มหาวิทยาลัยขอนแก่น
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
10
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Testing and diagnosis of analog circuits and systems / edited by Ruey-wen Liu
พิมพลักษณ์
New York : VNR, c1991
เลขเรียก
TK7870 TES 1991
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
11
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Digital integrated circuits
พิมพลักษณ์
Santa Clara, CA : National Semiconductor Corporation, c1974
เลขเรียก
TK7874 DIG 1974
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
12
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
In-circuit testing / John Bateson
ชื่อผู้แต่ง
Bateson, John
พิมพลักษณ์
New York : Van Nostrand Reinhold, c1985
เลขเรียก
TK7868.P7 BAT 1985
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
13
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Electronic testing and fault diagnosis / G.C. Loveday.
ชื่อผู้แต่ง
Loveday, G. c.
พิมพลักษณ์
Harlow : Longman Scientific & Technical, c1995.
เลขเรียก
TK7870.2 .L68 1995,621.38 L897E
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลพระนคร
มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ
14
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Integrated circuit design, fabrication and test / Peter Shepherd.
ชื่อผู้แต่ง
Shepherd, Peter.
พิมพลักษณ์
New York : McGraw-Hill, c1996.
เลขเรียก
TK7874 .S454 1996,751.493074 S574i 21
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยศิลปากร
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลอีสาน วิทยาเขตนครราชสีมา
มหาวิทยาลัยบูรพา
..more
×
มหาวิทยาลัยศิลปากร
มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลอีสาน วิทยาเขตนครราชสีมา
มหาวิทยาลัยบูรพา
มหาวิทยาลัยราชภัฏศรีสะเกษ
มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ
15
ประเภทสื่อ
Book
ชื่อเรื่อง
Computer hardware diagnostics for engineers / Ronald E. Howland.
ชื่อผู้แต่ง
Howland, Ronald e.
พิมพลักษณ์
New York : McGraw-Hill, c1995.
เลขเรียก
TK 7888.3 .H68 1995
ห้องสมุด
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลธัญบุรี
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี
1
2
3
Loading...
ส่งข้อเสนอแนะ/ปัญหา