สหบรรณานุกรมห้องสมุดสถาบันอุดมศึกษาไทย

| |

Type	Book
ชื่อเรื่อง	Scanned probe microscopy / edited by H. Kumar Wickramasinghe
ผู้แต่ง	Conference on scanned probe microscopies-stm and beyond 1991 : Santa barbara, Calif.)
ISBN	0883188163
พิมพลักษณ์	New York : AIP, c1992
รูปเล่ม	563 p. : ill
หัวเรื่อง	Atomic force microscopy
	Congresses
	Near-field microscopy
	Scanning probe microscopy
	Scanning tunneling microscopy

1	มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี 126 ถนนประชาอุทิศ แขวงบางมด เขตทุ่งครุ กรุงเทพฯ 10140 Loading items...