book cover
Type Book
ชื่อเรื่องHigh performance memory testing : design principles, fault modeling, and self-test / R. Dean Adams
ผู้แต่งAdams, R. dean
ISBN1402072554
พิมพลักษณ์Boston : Kluwer Academic, c2003
รูปเล่ม246 p. : ill
หัวเรื่องComputer storage devices
 Semiconductor storage devices

1
 มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี

126 ถนนประชาอุทิศ แขวงบางมด เขตทุ่งครุ กรุงเทพฯ 10140

Loading items...


© 2013-2019 UCTAL. All Rights Reserved.
สนับสนุนโดย สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา กระทรวงการอุดมศึกษา วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม ThaiLIS | Power by สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา