| Type |  Book |
| ชื่อเรื่อง | การทดสอบวงจรรวมขนาดใหญ่มาก = VLSI testing / เอกชัย แสงอินทร์ |
| ผู้แต่ง | เอกชัย แสงอินทร์ |
| พิมพลักษณ์ | เชียงใหม่ : ภาควิชาวิศวกรรมไฟฟ้า คณะวิศวกรรมศาสตร์ มหาวิทยาลัยเชียงใหม่, 2553 |
| ครั้งที่พิมพ์ | พิมพ์ครั้งที่ 1 |
| รูปเล่ม | 237 หน้า : ภาพประกอบ, ตาราง |
| หัวเรื่อง | ดิจิตอลอิเล็กทรอนิกส์ |
| | วงจรรวม |
| | วงจรอิเล็กทรอนิกส์ |