book cover
Type Book
ชื่อเรื่องNext generation technology-enhanced assessment : global perspectives on occupational and workplace testing / edited by John C. Scott, David Bartram, Doug H. Reynolds
ISBN9781107124363
รูปเล่มxx, 401 pages : illustrations ; 24 cm
หัวเรื่องAbility --Testing --Technological innovations []
 Internet questionnaires
 Interviewing --Data processing []
 Interviewing --Data processing []
 Psychological tests --Data processing []

1
 จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย

254 ถนนพญาไท แขวงวังใหม่ เขตปทุมวัน กรุงเทพมหานคร 10330

Loading items...


© 2013-2019 UCTAL. All Rights Reserved.
สนับสนุนโดย สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา กระทรวงการอุดมศึกษา วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม ThaiLIS | Power by สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา