book cover
Type Book
ชื่อเรื่องFringe pattern analysis for optical metrology [electronic resource] : theory, algorithms, and applications / Manuel Servin, J. Antonio Quiroga, and J. Moises Padilla
ผู้แต่งServin, Manuel
ISBN9783527411528
 9783527681075 (online)
พิมพลักษณ์Weinheim : Wiley, 2014
รูปเล่ม1 computer file
ลิงค์Wiley Online Library
หัวเรื่องDiffraction patterns
 Optical measurements

1
 มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ

แขวง วงศ์สว่าง เขต บางซื่อ กรุงเทพมหานคร 10800

Loading items...


© 2013-2019 UCTAL. All Rights Reserved.
สนับสนุนโดย สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา กระทรวงการอุดมศึกษา วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม ThaiLIS | Power by สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา