Type | Book |
ชื่อเรื่อง | Fringe pattern analysis for optical metrology [electronic resource] : theory, algorithms, and applications / Manuel Servin, J. Antonio Quiroga, and J. Moises Padilla |
ผู้แต่ง | Servin, Manuel |
ISBN | 9783527411528 |
| 9783527681075 (online) |
พิมพลักษณ์ | Weinheim : Wiley, 2014 |
รูปเล่ม | 1 computer file |
ลิงค์ | Wiley Online Library |
หัวเรื่อง | Diffraction patterns |
| Optical measurements |