book cover
Type Book
ชื่อเรื่องการวัดความหนาของฟิล์มทองแดงด้วยเทคนิคการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ = Cu thin film thickness measurement by X-ray diffraction technique / อรุณีย์ อินทศร, มาโนชญ์ เฮงวัฒนะ
ผู้แต่งอรุณีย์ อินทศร
พิมพลักษณ์[กรุงเทพฯ] : มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ, 2544
รูปเล่มฉ, 41 แผ่น
หัวเรื่องฟิล์มบาง
 รังสีเอกซ์ --การเลี้ยวเบน []

1
 มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ

114 สุขุมวิท 23 แขวงคลองเตยเหนือ เขตวัฒนา กรุงเทพฯ 10110

Loading items...


© 2013-2019 UCTAL. All Rights Reserved.
สนับสนุนโดย สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา กระทรวงการอุดมศึกษา วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม ThaiLIS | Power by สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา