book cover
Type Book
ชื่อเรื่องRecombination lifetime measurements in silicon / Dinesh C. Gupta, Fred R. Bacher, and William M. Hughes, editors
ISBN0803124899
พิมพลักษณ์West Conshohocken, PA : ASTM, c1998
 West Conshohocken, PA : ASTM, 1998
รูปเล่ม392 p. : ill. ; 24 cm
หัวเรื่องElectronic measurements --Congresses []
 Electronic measurements --Congresses []
 Semiconductors --Testing --Congresses []
 Semiconductors --Testing --Congresses []
 Service life (Engineering) --Forecasting --Congresses []
 Service life (Engineering) --Forecasting --Congresses []

1
 มหาวิทยาลัยศรีนครินทรวิโรฒ

114 สุขุมวิท 23 แขวงคลองเตยเหนือ เขตวัฒนา กรุงเทพฯ 10110

Loading items...

2
 มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี

111 ถ.มหาวิทยาลัย ต.สุรนารี อ.เมือง จ.นครราชสีมา 3000

Loading items...

3
 มหาวิทยาลัยเชียงใหม่

239 ถนน ห้วยแก้ว ตำบลสุเทพ อำเภอเมืองเชียงใหม่ เชียงใหม่ 50200

Loading items...

4
 มหาวิทยาลัยอุบลราชธานี

85 ตำบล เมืองศรีไค อำเภอวารินชำราบ อุบลราชธานี 34190

Loading items...


© 2013-2019 UCTAL. All Rights Reserved.
สนับสนุนโดย สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา กระทรวงการอุดมศึกษา วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม ThaiLIS | Power by สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา