สหบรรณานุกรมห้องสมุดสถาบันอุดมศึกษาไทย

| |

Type	Book
ชื่อเรื่อง	VLSI test principles and architectures : design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
ISBN	0123705975
	0123705975 (hbk.)
	9780123705976
	9780123705976 (hbk.)
	9780123705976 1850
พิมพลักษณ์	Amsterdam : Elsevier, c2006
รูปเล่ม	xxx, 777p. : ill
ลิงค์	Ebook from ScienceDirect
หัวเรื่อง	Integrated circuit design
	Integrated circuit testing
	Integrated circuits --Very large scale integration --Design []
	Integrated circuits --Very large scale integration --Design and construction []
	Integrated circuits --Very large scale integration --Testing []

1	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย 254 ถนนพญาไท แขวงวังใหม่ เขตปทุมวัน กรุงเทพมหานคร 10330 Loading items...
2	มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์ 50 ถนนงามวงศ์วาน แขวงลาดยาว เขตจตุจักร กรุงเทพฯ 10900 Loading items...
3	มหาวิทยาลัยพะเยา 19 หมู่ 2 ตำบลแม่กา อำเภอเมือง จังหวัดพะเยา 56000 Loading items...
4	มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ แขวง วงศ์สว่าง เขต บางซื่อ กรุงเทพมหานคร 10800 Loading items...
5	มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี 126 ถนนประชาอุทิศ แขวงบางมด เขตทุ่งครุ กรุงเทพฯ 10140 Loading items...