สหบรรณานุกรมห้องสมุดสถาบันอุดมศึกษาไทย

| |

Type	Book
ชื่อเรื่อง	LSI/VLSI testability design / Frank F. Tsui
ผู้แต่ง	Tsui, Frank f
ISBN	0070653410
	0070653410 (pbk)
พิมพลักษณ์	New York : McGraw-Hill, c1988
รูปเล่ม	702 p. : ill. ; 22 cm
หัวเรื่อง	Integrated circuits
	Integrated circuits --Large scale integration []
	Computer-aided design
	Integrated circuits --Large scale integration --Testing []
	Integrated circuits --Very large scale integration []
	Integrated circuits --Very large scale integration --Testing []

1	มหาวิทยาลัยเกษตรศาสตร์ 50 ถนนงามวงศ์วาน แขวงลาดยาว เขตจตุจักร กรุงเทพฯ 10900 Loading items...
2	มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี 126 ถนนประชาอุทิศ แขวงบางมด เขตทุ่งครุ กรุงเทพฯ 10140 Loading items...