Type | Book |
ชื่อเรื่อง | Thin film analysis by X-ray scattering / Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel |
ผู้แต่ง | Birkholz, Mario |
ISBN | 3527310525 |
| 9783527310524 |
พิมพลักษณ์ | Weinheim : Wiley-VCH ; [Chichester : John Wiley, distributor], c2006 |
รูปเล่ม | xxii, 356 p. : ill |
ลิงค์ | COMPUTER FILE |
| หน้าสารบัญ |
หัวเรื่อง | Thin films |
| X-ray spectroscopy |