| Type |  Book |
| ชื่อเรื่อง | From contamination to defects, faults and yield loss : simulation and applications / by Jitendra B. Khare, Wojeiech Maly |
| ผู้แต่ง | Khare, Jitendra B |
| ISBN | 0792397142 |
| พิมพลักษณ์ | Boston : Kluwer Academic, c1996 |
| รูปเล่ม | 150 p |
| หัวเรื่อง | Integrated circuits --Very large scale integration --Computer simulation [] |
| | Integrated circuits --Very large scale integration --Defects [] |
| | Integrated circuits --Very large scale integration --Testing [] |