| Type |  Book |
| ชื่อเรื่อง | System-on-chip test architectures : nanometer design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba |
| ISBN | 012373973X |
| | 9780123739735 |
| | 9780123739735 (hc) |
| พิมพลักษณ์ | Amsterdam : Morgan Kaufmann, c2008 |
| รูปเล่ม | xxxvi, 856 p. : ill |
| ลิงค์ | Ebook from ScienceDirect |
| หัวเรื่อง | Integrated circuits |
| | SYSTEMS ON A CHIP --TESTING [] |
| | INTEGRATED CIRCUITS --VERY LARGE SCALE INTEGRATION --DESIGN [] |
| | INTEGRATED CIRCUITS --VERY LARGE SCALE INTEGRATION --TESTING [] |
| | Systems on a chip |