| Type |  Book |
| ชื่อเรื่อง | Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies / Alvin W. Strong ... [et al.] |
| ISBN | 0471731722 |
| | 9780471731726 |
| พิมพลักษณ์ | Piscataway, NJ : IEEE Press ; Hoboken, N.J. : Wiley, c2009 |
| รูปเล่ม | xv, 624 p. : ill |
| หัวเรื่อง | Complementary metal oxide semiconductors |
| | METAL OXIDE SEMICONDUCTORS, COMPLEMENTARY --RELIABILITY [] |